定(ding)制低溫(wen)真空系統(tong)
LabCool低(di)溫測(ce)試裝置(zhi)
超(chao)導(dao)杜瓦用背景磁體由背場低溫超(chao)導(dao)磁體單(dan)元(yuan)、高溫超(chao)導(dao)帶(dai)(dai)材測(ce)(ce)試單(dan)元(yuan)、測(ce)(ce)量與(yu)控(kong)制(zhi)單(dan)元(yuan)組(zu)成(cheng)，可開展(zhan)超(chao)導(dao)帶(dai)(dai)材的通電實驗，臨界電流(liu)測(ce)(ce)定實驗，Ic劣化(hua)試驗，帶(dai)(dai)材交流(liu)損失(shi)測(ce)(ce)定實驗，帶(dai)(dai)材磁場特性(xing)實驗，失(shi)超(chao)特性(xing)試驗等帶(dai)(dai)材基礎性(xing)能檢測(ce)(ce)實驗等。
LabCool低溫測試裝置
技術參數
| 指標 | 技術參數 |
| 磁場強度 | 4T |
| 超導帶材冷卻溫度 | 20~77K可調 |
| 超導帶材控溫精度 | ±0.1K |
| 帶材與背場磁場調整角度 | 可實現0~360° |
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